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壓敏電阻體中電流分布特點

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  • 更新日期:2022-06-07 14:45
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詳細介紹
針對電流在壓敏電阻體微觀結構中的分布進行試驗研究。對壓敏電阻器芯片施以沖擊電流,會在垂直方向上引起壓敏參數(shù)發(fā)生變化且變化小于沖擊方向,壓敏電壓呈對稱變化,漏電流增加、非線性指數(shù)下降。

已經(jīng)知道,壓敏電阻器的微觀結構,是由富鉍相包裹的氧化鋅晶粒構成的三維互聯(lián)立體結構[1],導電網(wǎng)絡是眾多的晶界串聯(lián)、并聯(lián)和橋聯(lián)形成的混聯(lián)電路,再加上壓敏電阻體本身存在結構不均勻,使得壓敏電阻器導電時電流在微觀結構網(wǎng)絡中的分布變得很復雜。但壓敏電阻器中電流的分布特點到底是什么樣的?鮮見研究與報道。

本文就針對壓敏電阻器的微觀導電網(wǎng)絡中電流的分布問題展開研究,希望揭示壓敏電阻器微觀結構中的導電電流分布特點,以用電流的分布來分析解釋壓敏電阻器性能與可靠性,為解決生產(chǎn)研制過程提供參考。

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